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核心产品

激光位移传感器的升级迭代产品/技术

  • 光谱共焦位移传感器 D65A63 系列镜头

    光谱共焦位移传感器 D65A63 系列镜头

    镜头:外径D最大设计角度A最大量程R *最小光斑直径S*(C50光纤)工作距离C分辨率 *总长L单位mm D65A63系列:直径65mm,角度±63°

  • 光谱共焦位移传感器 D40A19 系列镜头

    光谱共焦位移传感器 D40A19 系列镜头

    镜头:外径D最大设计角度A最大量程R *最小光斑直径S*(C50光纤)工作距离C分辨率 *总长L单位mm D40A19系列:直径40mm,角度±19°

  • 光谱共焦位移传感器 D40A17 系列镜头

    光谱共焦位移传感器 D40A17 系列镜头

    镜头:外径D最大设计角度A最大量程R *最小光斑直径S*(C50光纤)工作距离C分辨率 *总长L单位mm D40A17系列:直径40mm,角度±17°

  • 光谱共焦位移传感器 D3.8A13 系列镜头

    光谱共焦位移传感器 D3.8A13 系列镜头

    特点:外径缩小到极致,且兼顾性能的一款光谱共焦镜头,其中侧面出光的-90系列,可以适用于各种小孔内壁测量应用

  • 线激光位移传感器3D工业视觉传感器

    线激光位移传感器3D工业视觉传感器

    新型LS系列3D工业视觉传感器基于激光三角反射原理,适用于各种工业应用。基于自主研发的CMOS成像芯片,扫描速度快,可提供出色的图像效果和可靠的测量结果。LS系列3D视觉传感器易于使用并且可以轻松集成,出厂已校准,是系统集成商的高性价比选择方案。

  • HM5-160全自动检测系统

    HM5-160全自动检测系统

    1、高速度、高精度测量系统。 2、最大160mm*160mm范围自动测量。 3、重复测量精度≦0.5µm。 4、适用高反光、高透光材料。 5、数据重复测量的一致性。 6、测量膜厚、线宽、平面度等。

  • HM-S100半自动检测系统

    HM-S100半自动检测系统

    1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质,重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样,最快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。

  • 白光干涉仪

    白光干涉仪

    该产品由膜厚仪主机、上位机 PC 软件、光纤组成。用一束准单色平行光照射多层薄膜, 光波会在第 1 到 n 层之间来回多次折射、反射进而形成多个相干光束。这些相干光束进行相 干叠加后,携带多层薄膜的相干信号并沿原路返回。不同波长的准单色光照射薄膜后,携带 的干涉信号不一样。如果用一束含有多种波长的准单色光照射薄膜后,提取各个波段的干涉 信号,通过 OCD 自主知识产权的算法进行反演计算,便可获得每一层薄膜材料...

  • 嵌入式智能控制器

    嵌入式智能控制器

    嵌入式控制器,采用光谱共焦原理无需链接PC端,可自动进行检测,产品分为嵌入式控制器Q30,Q60

  • 光谱共焦位移传感器 D8A29 系列镜头

    光谱共焦位移传感器 D8A29 系列镜头

    镜头:外径D最大设计角度A最大量程R *最小光斑直径S*(C50光纤)工作距离C分辨率 *总长L单位mm D8A29系列:直径8mm,角度±29°

进入产品中心立仪科技

光谱共焦
纳米级非接触式光学测量

发明专利认证

开创光谱共焦全新技术
跨越光学测量新台阶

查看专利立仪科技
  • 01纳米级高精度测量
  • 04背景干扰减少50%
  • 07规格覆盖0.05mm~50mm量程
  • 02LED光源更安全
  • 05光能利用率提升200%
  • 081(控制器)+N(镜头)多通道
  • 03测量角度高达±88°
  • 06良好结构设计保障稳定性
  • 09大口径非球面镜片,消除成像球差

应用案例

凭借显著的高精度、稳定性、适用性等优势,赢得越来越多品牌企业的青睐

  • 胶水断胶测量

    胶水断胶测量

    检测要求:测量样品间隙胶水有无断胶本次检测采用立仪光谱共焦控制器,搭配D35A30R4的传感器,产品水平放置在轮廓仪扫描平台,使用轮廓仪对产品表面进行扫描。在需要检测的区域涂上胶水(如上图),在放在轮廓扫描上设置好相关的参数,进行扫描(如下图),就出现了我们想要的数据了。立仪科技一家专业生产研发光谱共焦位移传感器,激光位移传感器,白光干涉仪,膜厚仪的公司,产品广泛应用于3C,半导体航空航天等高精度检测。...

  • 电脑玻璃屏幕对射侧厚

    电脑玻璃屏幕对射侧厚

    1、使用H4UC-M2 D35A18R8S25传感器进行对射测厚静态测试。 2、标定块选用的是1.7MM陶瓷量块。 3、传感器工作频率为:300Hz~2000Hz。 4、使用2通道传感器,可同时测量产品上指定的2个位置,最高可扩展8通道控制器,可同时测量产品上指定的8个位置 5、通过移动样品测量13个位置的厚度。

  • 显示屏玻璃厚度测量

    显示屏玻璃厚度测量

    显示屏玻璃厚度测量

  • 手机壳缝隙扫描测量

    手机壳缝隙扫描测量

    手机壳缝隙扫描测量

  • 苹果手机壳摄像头测量扫描

    苹果手机壳摄像头测量扫描

    苹果手机壳摄像头测量扫描

  • 苹果手机壳高度差段差测量

    苹果手机壳高度差段差测量

    苹果手机壳高度差段差测量

  • 苹果手机壳平面度扫描测量

    苹果手机壳平面度扫描测量

    苹果手机壳平面度扫描测量

  • 苹果手机壳孔深测量

    苹果手机壳孔深测量

    苹果手机壳孔深测量

  • 苹果手机壳轮廓扫描

    苹果手机壳轮廓扫描

    苹果手机壳轮廓扫描

  • 显示屏测量扫描,显示屏侧厚

    显示屏测量扫描,显示屏侧厚

    显示屏测量扫描,显示屏侧厚

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关于我们

光谱共焦创新产品/技术专业服务商

深圳立仪科技有限公司成立于 2014 年,是一家专注于精密光学检测领域的民营高科技企业,具备从研发、设计、生产、定制、销售到服务的完善体系及强大业务能力,输出光谱共焦位移传感器及其应用配套的产品和专业服务。

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新闻资讯

闪耀科技之光,照亮高精密制造发展之路

  • 立仪科技新型出品:3D工业视觉传感器

    立仪科技新型出品:3D工业视觉传感器

      近年来,行业不断的发展,机器视觉从之前的2D平面进化到3D立体“视界”,机器视觉技术变得越来越复杂,工业领域的图像处理更多的专注于3D传感器,而且越来越多的技术已经完善并且投入到实际应用中。  立仪科技新型LS系列3D工业视觉传感器基于激光三角反射原理,适用于各种工业应用。基于自主研发的CMOS成像芯片,扫描速度快,可提供出色的图像效果和可靠的测量结果。LS系列3D视觉传感器易于使用并且可以轻松集成...

    292022-04
  • 3D线激光位移传感器专业应用于工业“机器视觉”

    3D线激光位移传感器专业应用于工业“机器视觉”

    随着经济的高速发展,我国人口红利优势将急速消退,这对正处于工业现代化建设的我国影响巨大,而随着信息技术的进步,人工智能和物联网产业升级推动了工业智能制造的发展,主要表现为在基础生产应用和特殊安全防护领域,机器逐渐能够替代人工完成一系列生产检测环节工作,其中就包括替代人眼感官的机器视觉。相比人类视觉,机器检测比人工视觉检测优势明显:机器视觉检测比人工视觉检测效率高、速度快、精度高、可靠性好,同时,工...

    212022-04
  • 深圳立仪发布纳米级高分辨率光谱共焦位移传感器,精度再破纪录

    深圳立仪发布纳米级高分辨率光谱共焦位移传感器,精度再破纪录

    随着智造时代的突飞猛进,各行各业都向高精确度的方向快速发展,光学与机器视觉技术已经在消费电子、汽车制造、光伏半导体等多个行业应用。机器视觉技术是图像获取、分析、识别、检测等技术的综合。在一些不适宜人工作业的工作环境或人工视觉难以满足高精度、高质量要求的场合,常用机器视觉来代替人工视觉。传统2D机器视觉仅能检测平面尺寸,深圳立仪科技生产的光谱共焦位移传感器,使用将白光色散的光学方法,可以检测深度信息,...

    182022-04
  • 彩色激光同轴位移计在智能手机和平板电脑的应用

    彩色激光同轴位移计在智能手机和平板电脑的应用

      如今智能手机在我们生活中起到了很重要的作用,电子产品都有着非常高精度的表面,它们的外表一般都是由非常精细的金属和玻璃合成。这些由塑料、金属和玻璃制成的材料必须很紧密无缝地结合在一起。  彩色激光同轴位移计作为一种先进加工技术,在手机制造过程中,发挥了举足轻重的作用,彩色激光同轴位移计在手机行业的应用前景广阔。彩色激光同轴位移计传感器能够确保在组装时所有部分都能很平整地排列在一起。在测量时,这些...

    192022-05
  • 白光干涉仪的原理及应用

    白光干涉仪的原理及应用

    白光干涉仪,光谱共焦位移传感器,线激光位移传感器,膜厚仪都是高精度检测仪器,本篇立仪科技小编就带领大家一起来了解了解白光干涉仪原理及其应用:原理:光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束,一束经被测表面反射回来,另外一束光经参考镜反射,两束反射光最终汇聚并发生干涉,显微镜将被测表面的形貌特征转化为干涉条纹信号,通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌。白光干涉三维形貌仪是利用光学干涉原理研制...

    192022-05
  • 光谱共焦传感器在点胶设备中的测量应用

    光谱共焦传感器在点胶设备中的测量应用

      随着我国智能设备不断发发展,对于它的品质要求也越来越高,很从用户一味的追求个性化,愈发复杂的形状意味着,对点胶设备提出更高的要求,需要应对更高的点胶精度与角度。  光谱共焦位移传感器系列具备同轴高精度测量的特点,即使在狭窄空间,也不会产生光路干涉,能够准确测量手机结构件中胶粘剂的涂胶量。  目前手机中板和屏幕模组贴合时,需要在中板上面点一圈透明的UV胶,这种胶由于白色反光的原因,只能使用光谱共...

    122022-05
  • 光谱共焦传感器如何测量挖孔屏摄像头模组点胶?

    光谱共焦传感器如何测量挖孔屏摄像头模组点胶?

      光谱共焦传感器如何测量挖孔屏摄像头模组点胶?随着屏幕形态的多样化和“屏下摄像头”技术逐渐成熟,“挖空屏”逐渐成为5G时代主流屏幕形态。新技术的背后,是通过升级加工工艺及采用更精准的影像测量仪检测技术使屏幕结构使“挖空屏“手机做到长期稳定。为了更极致的视觉体验,在刘海屏、全面屏、滑盖屏、双面屏之后,挖孔屏也来了。  挖孔屏的空分为通孔和盲孔两种工艺。通孔是在屏幕上打洞,对于前置摄像头的成像更有利,...

  • 光谱共焦位移传感器的工作部分有哪些?

    光谱共焦位移传感器的工作部分有哪些?

      随着工业的快速发展,对精密测量技术的要求越来越高。位移测量技术作为几何量精密测量的基础,不仅需要超高的测量精度,还需要对环境和材料有广泛的适应性,逐渐趋向于实时和无损检测。与传统的接触测量方法相比,可视化光谱共焦位移传感器具有速度快、精度高、适应性强等明显优势。  光谱共焦位移传感器常用于测透明物体的厚度,如测薄膜、玻璃、透明胶、透明液体。且可测多层厚度用于表面粗糙度分析、表面轮廓分析、划痕测...

  • 膜厚仪具备了哪些功能?

    膜厚仪具备了哪些功能?

      随着该设备的技术发展,膜厚仪可广泛应用于石油、化工等领域中,成功的帮助我们提高了检测的精度。膜厚仪主要是用于测量覆膜薄膜、薄片等材料的厚度,测量的范围宽不说,精度还高,具有的主要特点是数据输出、公英制转换、自动断电、任意位置置零等。那么膜厚仪具备了哪些功能呢?下面由深圳立仪科技公司为大家分享:  膜厚仪的主要功能如下:  1、膜厚仪适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃等产品的厚度,因为这些产品都是良好...