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国内上市电子元器件大型公司应用光谱共焦于银浆厚度测量

发布时间:2019-12-28 浏览:21次 责任编辑:立仪科技

  在陶瓷上印刷银浆形成线路是很多电子元件制作的基础工艺,由于陶瓷具有透光性,使用激光测量容易产生偏差。最终采用了光谱共焦原理加上磁悬浮自动XY精密运动平台,解决了银浆厚度测量的问题。