0755-2826 3345
立仪科技
立仪科技
当前位置: 新闻资讯 > 技术资讯 > 立仪科技攻坚位移传感器,助力突破精密测量“卡脖子”困局 < 返回列表

立仪科技攻坚位移传感器,助力突破精密测量“卡脖子”困局

发布时间:2021-10-15 浏览:56次 责任编辑:立仪科技

    中国制造要提升质量,就必须提高测量精度,凡是制造高端装备,就需要精密测量仪器。但是,长期以来精密测量仪器的核心技术都把持在外国人手中,在国际局势风云变幻的当下,无疑我国制造业需要掌握自主精密测量仪器,打破被国外“卡脖子”的窘境。


    面对国内精密测量发展现状,深圳立仪科技有限公司精心研发,打造具备高精度、高稳定性、高泛用性等优势的光谱共焦位移传感器,为我国制造业打破困局添助力。


    掌握核心原理,颠覆三角激光测距法


    立仪科技采用的光谱共焦原理用通俗的话表述,就是将一束光经过一个小孔透过镜头色散形成一条光带,再将光带照到物体表面并收集反射光,通过计算波长分析这些反射回来的光,就可以得到镜头到物体的距离。和传统的三角激光测距法不同,它实现了以下突破:


    1、三角法根据三角函数计算高度距离,存在一定死角盲区,难以测量小孔隙;光谱共焦测距法则采取多方照射同轴测量的方式,可以测量小孔和槽底部这样传统测量的盲区。


    2、三角法在测量镜面时,需要使用专门的仪器型号或特定角度,而且当测量表面倾斜弯曲幅度较大时,就会产生没有测量光返回,即无法测量的情况;而光谱共焦测距法在测量镜面时,即便弯曲倾斜幅度较大,只要有小部分光返回,即可在不需要改变型号和角度的同时完成测量。


    3、三角法测量半透明材质时,容易产生偏差,面对透明材质更“无从下手”;而光谱共焦测距法因为半透明材质光板周围的光被小孔阻挡无法返回,所以不会影响测量,在测量透明表面时,不仅能完成测量,甚至可以测多层。


    4、三角法测量时,因为激光仅焦点细,一旦离开焦点测量区域变大,就会降低测量的精度;而光谱共焦测量法量程范围内测量有效波长的光始终保持在焦点上,全量程保持分辨度和精度。


    超强稳定性,为精密测量赋能


    立仪科技的光谱共焦位移传感器,可以轻松应对金属、玻璃、镜面体、黑色橡胶、陶瓷等材质测量,而且,精度都能稳定保持在1um之内,具备在各种材质上的高精度直线性表现,相对传统三角激光位移传感器,在国内精密测量领域实现了新突破。在实际应用中,光谱共焦位移传感器也凭借其高精度、高稳定性、高泛用性等鲜明优势,赢得了高度认可。


    除此之外,光谱共焦位移传感器也能在面板显示、点胶、测量等领域应用,诸如智能设备液晶面板、精密非接触测量、面板电极厚度测量等。在交通、新能源、医疗等攸关民生的领域,光谱共焦位移传感器也能起到辅助作用,帮助飞机、高铁、电池、玻璃容器等制造得更精细、更优质。



    立仪科技光谱共焦位移传感器的优越性能,可以在半导体、芯片等元器件行业充分发挥作用,在“中国制造”向“中国智造”大踏步迈进,奋力前行突破国外技术“卡脖子”困局的当下,能够为芯片制造添助力。希望在未来,我国精密测量能够得到进一步精进,为整体制造业发展作出更多贡献。相信就在不远的将来,我国制造业终将全面掌握自主核心技术,傲然屹立于世界强者之林。