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2024-08-09

立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量

01|检测需求:金属隔膜重复性测量



02|检测方式


为了保证精度,首先先用千分尺进行测量,得出相应的厚度数据,在选择合适的侧头,根据结果,我们现在立仪科技H4UO控制器搭配D27A20侧头


03|千分尺测量结果


经过测量可以厚度是84微米


04|光谱共焦测量结果


经过测量可以厚度83.417μm



05|60秒内重复精度展示(部分)


60秒内重复精度展示(部分)



06|光谱共焦侧头


D27A20侧头相关参数