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光谱共焦位移传感器 D40A33XL 系列镜头
角度、量程、工作距离等参数均衡，适用于大部分应用场景XL系列属于光强增强版系列镜头，配合定制的控制器可以将光强增加数倍更高的光强在对高透过率，或高吸光率材质的测量应用时，有着更强的测量信号
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光谱共焦位移传感器 D40A26XL 系列镜头
角度、量程、工作距离等参数均衡，适用于大部分应用场景XL系列属于光强增强版系列镜头，配合定制的控制器可以将光强增加数倍更高的光强在对高透过率，或高吸光率材质的测量应用时，有着更强的测量信号
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光谱共焦位移传感器 D40A17 系列镜头
直径40mm，适中尺寸可满足大多数安装场景 此款拥有90度出光镜头版本，可用测量侧面尺寸 大光斑精度中上，长工作距离，量程适中，是一款通用型号 D40系列中长度尺寸最短的型号，适用于对长度尺寸有要求的应用场景
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光谱共焦位移传感器 D3.8A13 系列镜头
直径3.8mm极小的外形尺寸，适合对尺寸要求极高的应用场景 此系列拥有90度出光镜头版本，可深入各种小孔内部测量内壁尺寸特征 可加装500mm左右延长杆，外径加到直径4.3mm最深测量500以内深度小孔
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线光谱共焦位移传感器
原理：将原来点光谱共焦的点光源扩展为线光源。并通过高速的数据处理，在反馈的线光谱信号上采样多个点信号组成数据序列，用点云处理的方式可以得到被测物的高精度扫描轮廓并输每个位置的高精度高度数据。特点1：立仪科技开发的线光谱共焦传感器与市面上基于三角法的线光谱原理不同，三角法原理线光谱对狭缝，深孔等特征无法测量，而立仪科技开发的线光谱特性则与点光谱相同，垂直向下测量，狭缝，深孔等特征依然可测特点2：
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线激光位移传感器3D工业视觉传感器
新型LS系列3D工业视觉传感器基于激光三角反射原理，适用于各种工业应用。基于自主研发的CMOS成像芯片，扫描速度快，可提供出色的图像效果和可靠的测量结果。LS系列3D视觉传感器易于使用并且可以轻松集成，出厂已校准，是系统集成商的高性价比选择方案。
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HM5-160全自动检测系统
1、高速度、高精度测量系统。 2、最大160mm*160mm范围自动测量。 3、重复测量精度≦0.5µm。 4、适用高反光、高透光材料。 5、数据重复测量的一致性。 6、测量膜厚、线宽、平面度等。
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HM-S100半自动检测系统
1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样，最快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。
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白光干涉仪
该产品由膜厚仪主机、上位机 PC 软件、光纤组成。用一束准单色平行光照射多层薄膜， 光波会在第 1 到 n 层之间来回多次折射、反射进而形成多个相干光束。这些相干光束进行相 干叠加后，携带多层薄膜的相干信号并沿原路返回。不同波长的准单色光照射薄膜后，携带 的干涉信号不一样。如果用一束含有多种波长的准单色光照射薄膜后，提取各个波段的干涉 信号，通过 OCD 自主知识产权的算法进行反演计算，便可获得每一层薄膜材料...
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点光谱嵌入式传感器Q50
Q50系列控制器与配套的光纤、探头组合成完整的点共焦位移传感器产品。采用“共焦原理”技术，实现了跨越式创新。 1、超小型、轻量。不仅可以安装在难以安装的狭窄空间，还可以并列安装探头及搭载在机器人上。 2、应对曲面、凹坑、高低差能力强。采用直上直下的测量方式，可高精度测量曲面、凹坑等具有高低差、不规则各种形状的目标物。 3、用一个探头就能实现金属、橡胶、镜面体、玻璃、凝胶体等材料的高精度测量。 4、“双头对射测厚”设置简单。对膜片目标物的厚度测量，可以通过专用家具及光轴调节功能，进行快速、准确的设置，实现高精度测量。 5、距离改变，光点直径不会改变。激光位移传感器在移动到测量范围的边缘过程中光点直径会变大，受此影响精度会变差，或者无法正确跟踪形状。Q50系列的光点直径在测量范围内的每个位置都几乎不会发生变化，因此可高精度测量。 6、对透明、镜面体的曲面、倾斜实现高精度测量。如果能接受部分反射光，就可通过检测其反射光的波长位置来进行高精度的测量。
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