点白光干涉仪METAFLIN-W系列

  • 纳米级精度,最高精度达1nm
  • 光刻胶厚度测量,测量厚度范围可达01-300μm
  • 可测多层薄膜,支持膜层层数可达100层
  • 可获得每一层薄膜材料的光学参数(厚度、折射率、消光系数)
  • 透明、高反射材质测量
型号 METAFILN-W025 METAFILN-W036 METAFILN-W045 METAFILN-W081
波长范围 250–800nm 365–1000nm 450–750nm 810–910nm
厚度范围 0.01–50μm 0.02–70μm 0.05–150μm 0.05–300μm
厚度分辨率 0.1nm 0.1nm 0.1nm 10nm
重复性偏差* 薄膜模式偏差:0.1nm 厚膜模式偏差:0.015μm
入射角 正入射
膜层层数 1–100层
样品材料 透明或半透明
测量模式 反射 / 对射
光斑尺寸 200μm × 20μm
是否在线 支持在线
扫描选择 XY可选
采样频率 最高5KHz
电源模块 12V 3A,P1J标准插头(2.1φ × 5.5φ × 11mm)
加密狗 软件加密狗(USB-KEY)
USB信号线 Type-B(膜厚仪端)– Type-A(PC端)
相机 / 同轴镜头 可定制
光纤接头 SMA905
* 重复性偏差是在实验模拟场景下,对同一标准样品重复测量30次后得到的标准偏差波动值。