锂电池外壳表面瑕疵可能影响电池外观以及耐用性。立仪通过精密光学传感技术，实现对电池外壳表面的高精度瑕疵检测，帮 […]

芯片封装完成后，不同结构区域存在高度差，若超出公差将影响模组装配与可靠性。立仪提供非接触式高度测量方案，对封装 […]

OLED显示屏厚度不均匀会导致显示效果不稳定，影响图像质量和产品寿命。立仪通过高精度的厚度测量技术，实现OLE […]

光模块批量装配后，整体高度偏差会影响插拔兼容性与系统集成。立仪通过非接触式高度测量方案，实现对光模块整体高度的 […]

AMOLED显示屏的边缘形貌与表面质量直接影响装配与显示效果，传统测量方法效率低，难以实现大批量检测。立仪通过 […]

光通信器件中大量使用精密光学支架，其高度偏差会导致光轴偏移，影响信号质量。立仪通过高精度非接触测量方案，对光学 […]

触摸屏表面瑕疵影响使用体验，且传统检测方式无法做到快速且全面的缺陷发现。立仪通过表面缺陷检测方案，结合高分辨率 […]

光通信器件装配过程中，对装配高度与位置精度要求极高，人工调整效率低且一致性不足。立仪通过高精度位移测量方案，为 […]

LCD背光模组高度一致性差会导致显示效果不稳定，影响显示屏的光照均匀性。立仪通过高精度非接触测量技术，对LCD […]

光纤连接器中多处关键尺寸需要严格控制，其高度偏差会影响插损和回损性能。立仪通过非接触式高度测量方案，对连接器关 […]

电视面板表面瑕疵和划痕会大大降低产品质量，影响市场竞争力。立仪提供自动化的表面瑕疵检测系统，通过非接触式扫描和 […]

光通信模块中使用大量精密金属结构件，其形貌质量直接影响器件装配精度。立仪通过非接触式光学测量方案，对金属件高度 […]

医疗无菌包装对封口高度与平整度要求严格。立仪通过激光位移传感器获取封口区域的连续轮廓高度信息，实现对封边高度、 […]

手机中框存在多级台阶与装配面，高度差直接影响整机装配精度与外观一致性。传统接触测量效率低且易产生误差。立仪采用 […]

立仪通过高精度非接触测量技术获取片材整体轮廓高度信息，实现平整度与翘曲量化评估。

中框平整度不足会导致屏幕贴合不良和整机翘曲问题。立仪通过非接触式光学测量方案，对中框整体平整度进行检测，提升产 […]

硅片厚度直接影响电池转换效率与机械强度。立仪采用高精度非接触测量技术，通过上下表面高度差实现稳定、高重复精度的 […]

摄像头模组高度偏差会影响对焦性能和成像质量。立仪采用高精度非接触测量方案，对摄像头模组高度进行检测，帮助客户提 […]

电池片易产生微裂纹或破损。立仪采用高精度非接触测量技术，对电池片表面进行高速高度扫描，通过异常高度变化识别破片 […]

3C 产品中大量金属结构件需要保证高度与平面度一致性。立仪通过非接触式光学测量方案，对金属结构件进行稳定检测， […]

背接触电池对金属化层高度一致性要求高。立仪采用高精度非接触测量技术，对金属化区域进行测量，实现高反射表面的稳定 […]

外观结构段差过大会影响产品质感与外观一致性。立仪通过非接触式位移测量方案，实现段差的稳定检测。

立仪通过非接触测量技术对焊缝进行高速高度扫描，实现焊缝成形高度的在线检测。

高反射光学表面对测量系统稳定性要求高，传统方法易受干扰。立仪通过适用于高反射表面的非接触测量方案，实现稳定的高 […]