陶瓷片厚度测量_3D玻璃测量立仪科技

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2022-11-23

陶瓷片厚度测量

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线光谱共焦位移传感器

原理：将原来点光谱共焦的点光源扩展为线光源。并通过高速的数据处理，在反馈的线光谱信号上采样多个点信号组成数据序列，用点云处理的方式可以得到被测物的高精度扫描轮廓并输每个位置的高精度高度数据。特点1：立仪科技开发的线光谱共焦传感器与市面上基于三角法的线光谱原理不同，三角法原理线光谱对狭缝，深孔等特征无法测量，而立仪科技开发的线光谱特性则与点光谱相同，垂直向下测量，狭缝，深孔等特征依然可测特点2：
点光谱共焦位移传感器G系列

G系列控制器是基于光谱共焦技术，并采用先进的FPGA+CPU硬件架构等技术自研而成的创新型产品。结合高强度LED光源、创新的棱镜光谱仪专利设计、高灵敏度探测器和FPGA高速处理，实现超高实时性、超高集成度、接口丰富等特色产品属性。
点光谱共焦位移传感器H系列

可以测量任何材料的厚度、高度、轮廓其产品传感器分为单通道，双通道，三通道等，最高可以达到八通道