PCD陶瓷金属高度差测量_半导体行业立仪科技

深圳立仪科技有限公司

Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd

0755-2826 3345

En

En

2022-11-10

PCD陶瓷金属高度差测量

推荐产品

光谱共焦位移传感器 D27A45XL系列

镜头：外径D：27毫米测量角度有±45°
光谱共焦位移传感器侧头D27A17系列

镜头：外径D：27毫米测量角度有±17°
光谱共焦位移传感器A系列

亚微米级分辨率，各类材质超高精密检测通路设计，成像清晰，品质卓越
光谱共焦位移传感器D系列

u 采样速度超高：超高采样速度最高可达13000Hzu 触发采集模式丰富:涵盖指定频率连续模式、外触发模式、编码器模式及多种工业接口，Ethernet、EtherCAT、EtherIP、模拟量、 RS485、RS422。u 测量功能多元：集高度测量、PC 端单边测厚、双通道对射测厚于一体。u 实时数据处理：含多种滤波（取样平均、滑动平均等）、极值处理及无信号多样处理。u 缓存预处理强：PC 端实现，具异常数据优化、多滤波（高斯等）、小...