0755-2826 3345
立仪科技
立仪科技
  • HM5-160全自动检测系统
  • HM5-160全自动检测设备膜厚仪

HM5-160全自动检测系统

1、高速度、高精度测量系统。 2、最大160mm*160mm范围自动测量。 3、重复测量精度≦0.5µm。 4、适用高反光、高透光材料。 5、数据重复测量的一致性。 6、测量膜厚、线宽、平面度等。

产品详情

Xbar-R均值极差控制图、分布概率直方图、平均值、标准差、CPK等常用统 计参数。 

按被测产品独立统计,可追溯性品质管理,可记录产品条码或编号,由此 追踪到该编号产品当时的印刷、浆料、钢网、刮刀等几乎所有制程工艺参 数。规格参数可自主设置。 

制程优化分类统计,可根据不同印刷参数比如刮刀压力、速度、脱网速度、 清洁频率等,不同浆料,不同钢网,不同刮刀进行条件分类统计,且条件可以 多选。可方便地根据不同的统计结果寻找最稳定的制程参数配置。