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光纤端面高度和平整度直接影响光信号耦合效率与连接损耗。传统接触式检测易损伤端面,且一致性不足。立仪采用非接触式高精度高度测量方案,对光纤端面进行稳定检测,实现端面高度与平整度的精确控制,提升连接可靠性。