光学支架与精密结构件高度检测

光通信器件中大量使用精密光学支架，其高度偏差会导致光轴偏移，影响信号质量。立仪通过高精度非接触测量方案，对光学支架关键尺寸进行检测，确保装配精度与稳定性。