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光通信器件中广泛使用增透膜、反射膜等光学镀膜，其膜厚直接影响光学性能。立仪采用非接触式光学测量方案，实现对光学镀膜层的非接触高分辨率膜厚测量，帮助客户优化镀膜工艺。
