光谱共焦
非接触式测量产品

立仪科技提供光谱共焦位移传感器、3D 线共焦位移传感器、激光位移传感器、白光干涉膜厚仪及配套控制器,覆盖微米/亚微米级位移测量、透明材料厚度检测、表面轮廓扫描和在线尺寸检测等工业应用。

A系列-控制器

D15系列-测量探头

D27系列-测量探头

D3.8系列-测量探头

D35系列-测量探头

D40系列-测量探头

D55系列-测量探头

D65系列-测量探头

D8系列-测量探头

D系列-控制器

E系列-控制器

G系列-控制器

点激光位移传感器-PLG系列

点激光位移传感器PL系列

点白光干涉仪METAFLIN-W系列

线光谱共焦位移传感器-L系列